Yleismittari menetelmä kapasitanssin havaitsemiseen

Shenzhen Shenchuang Hi-tech Electronics Co., Ltd (SChitec) on korkean teknologian yritys, joka on erikoistunut puhelintarvikkeiden tuotantoon ja myyntiin. Päätuotteitamme ovat matkalaturit, autolaturit, USB-kaapelit, virtapankit ja muut digitaaliset tuotteet. Kaikki tuotteet ovat turvallisia ja luotettavia, ja niissä on ainutlaatuiset tyylit. Tuotteet läpäisevät sertifikaatit, kuten CE, FCC, ROHS, UL, PSE, C-Tick jne. , Jos olet kiinnostunut, voit ottaa suoraan yhteyttä ceo@schitec.com. 

Pysy latautumassa turvallisesti SCitecin avulla

Yleismittari menetelmä kapasitanssin havaitsemiseen

Kondensaattorin havaitsemiseksi digitaalisella yleismittarilla voidaan käyttää seuraavaa menetelmää.

Käytä ensin kapasitanssitiedostoa suoraan havaitsemiseen

Joillakin digitaalisilla yleismittareilla on kapasitanssin mittaustoiminto, ja niiden alueet on jaettu 2000p, 20n, 200n, 2μ ja 20μ. Mittauksen aikana purkautuvan kondensaattorin kaksi nastaa voidaan työntää suoraan levyn Cx-liittimeen ja näytön tiedot voidaan lukea sopivan alueen valinnan jälkeen.

2000p-tiedosto, joka soveltuu alle 2000pF:n kapasitanssin mittaamiseen; 20n tiedosto, joka soveltuu kapasitanssin mittaamiseen välillä 2000pF - 20nF; 200n tiedosto, joka soveltuu kapasitanssin mittaamiseen välillä 20nF - 200nF; 2μ-tiedosto, soveltuu mittaamaan 200nF - 2μF kapasitanssi; 20μ, sopii kapasitanssin mittaamiseen välillä 2μF - 20μF.

Kokemus on osoittanut, että joissakin digitaalisissa yleismittarimalleissa (kuten DT890B+) on suuria virheitä mitattaessa pienikapasitanssisia kondensaattoreita alle 50pF. Alle 20pF:n kondensaattoreiden mittaamiseen ei ole juuri mitään viitearvoa. Tässä tapauksessa pieniarvoinen kondensaattori voidaan mitata sarjamenetelmällä. Menetelmä on: etsi ensin noin 220pF:n kondensaattori, mittaa sen todellinen kapasiteetti C1 digitaalisella yleismittarilla ja mittaa sitten kokonaiskapasiteetti C2 pienellä rinnakkain testattavalla kondensaattorilla, sitten näiden kahden välinen ero (C{{8 }}C2) on testattavan pienen kondensaattorin kapasiteetti. Tämän menetelmän käyttäminen pienen 1–20 pF:n kapasitanssin mittaamiseen on erittäin tarkkaa.

Toiseksi käytä vastustiedoston tunnistusta

Käytäntö on osoittanut, että kondensaattorin latausprosessia voidaan tarkkailla myös digitaalisella yleismittarilla, joka itse asiassa heijastaa latausjännitteen vaihtelua diskreeteissä digitaalisissa suureissa. Digitaalisen yleismittarin mittausnopeuden ollessa n kertaa/sekunti, havaintokondensaattorin latausprosessin aikana voidaan nähdä joka sekunti n toisistaan ​​riippumatonta ja peräkkäin lisääntyvää havaintoa. Tämän digitaalisen yleismittarin näyttöominaisuuden mukaan voidaan havaita kondensaattorin laatu ja arvioitu kapasitanssi. Seuraavassa on menetelmä kondensaattorin havaitsemiseksi käyttämällä digitaalista yleismittarin vastustiedostoa, joka on hyödyllinen mittarille, jossa ei ole kondensaattoritiedostoa. Tämä menetelmä soveltuu suurikapasiteettisten kondensaattoreiden mittaamiseen 0,1 μF:stä useisiin tuhansiin mikrofaradiin.

Kolmanneksi, käytä jännitetiedoston tunnistusta

Digitaalisen yleismittarin tasajännitetiedoston käyttäminen kondensaattorin havaitsemiseen on itse asiassa epäsuora mittausmenetelmä, joka mittaa pienen 220 pF - 1 μF:n kondensaattorin ja mittaa tarkasti kondensaattorin vuotovirran.